2015 年 4 月 24 日OTC 2015 – 离岸技术会议 OTC 就在拐角处,探头技术将 参加OTC以及。按照惯例,我们显示的情况下,我们新的下洞和 表面测量技术,但今年,我们正在商业化 与下孔测量和 日志记录工具。 我们将展示一些新技术,如 iSet 工具、我们新的生产日志记录套件、腐蚀字符串等。请 确保您在主大厅的引导号 3953 访问我们。展位内将包含 产品模型、动画和其他支持元素,展示了我们的 能力。 分享:LinkedInFacebookTwitter电子邮件打印