OTC 2016 – 离岸技术会议

探测器按计划在OTC展出，并有机会 与来自世界各地的客户和感兴趣的各方互动。作为 习惯性，我们展示了我们新的下井和表面测量技术。

今年，我们开始了商业化的 与下孔测量和 日志记录工具。新技术的演示，如iSet，iWheel， DataTrap 3D，iPro和我们新的生产记录服，腐蚀字符串等。 收到与极大的兴趣。

我们感谢所有参加，并期待任何 反馈您想与我们分享！